光学激光系统低频防震台/减震台/隔振台 光学显微镜、激光干涉仪、轮廓仪低频防震台/减震台/隔振台 激光和光学系统,无论是在学术实验室中使用还是在工业环境中,都非常*受到来自环境的振动的影响。这些仪器几乎总是需要隔振。传统上,大型空气表已经成为光学系统的可以选择系统。这种情况已经不再是这样了。根据振动频率,负K隔离器提供空气表性能的10-100倍。它们不需要空气或电力,而且紧凑,易于移动。一些用户需要用面包板提供的螺纹孔阵列。在这种情况下,很*在我们的防振隔离器上安装一个面包板。在两个或多个隔离器上放置一个较大的面包板也是常见的。 基于激光的干涉仪是非常灵敏的装置,能够解决纳米尺度的运动/特征。它们通常具有非常长的机械路径,这使得它们对振动更加敏感。先进的现代椭圆偏振测量技术,允许这种高性能依赖于低噪声能够检测条纹运动。适当地隔离干涉仪将允许它提供尽可能高的分辨率。 光学轮廓仪对振动具有相似的敏感性。阻止来自典型的长光路的外部振动,改进的灵敏度和更可靠的测量。不再需要在夜晚做较敏感的测量。 光学元件系统通常相当复杂。长的光路可以导致振动的角度放大。通常使用的光学气动工作台会使问题变得更糟,因为它们的共振频率常常与地板振动的共振频率相匹配。我们的1/2赫兹隔离器提供隔离在这些环境中,当空气表根本不能。 相关设备领域: 光学干涉仪 光学轮廓仪 荧光光学显微镜 共聚焦激光扫描显微镜 NSOM SNOM:近场扫描光学显微镜 TIFRM:全内反射荧光显微镜 SEM:扫描电子显微镜 AFM:原子力显微镜 SPM:扫描探针显微镜 STM:扫描隧道显微镜 TEM:透射电子显微镜 SEM:扫描电子显微镜 Sensofar Lynx Profiler on Minus K BM-8.jpg 图1:Sensofar Lynx Profiler on Minus K BM-8 Park Systems XE-70 AFM on Minus K BM-10.png 图2:Park Systems XE-70 AFM on Minus K Laser Interferometer scanning piston pins on the production line supprted by a Minus K BM-10.jpg 图3:Laser Interferometer scanning piston pins on the production line supprted by a Minus K BM-10 Coordinate Measuring Machine (CMM) with Laser Interferometer within production a line stablized on Minus K BM-10 (video link).jpg 图4:Coordinate Measuring Machine (CMM) with Laser Interferometer within production a line stablized on Minus K BM-10